iStereo-6745 Стереомикроскоп

QR

×

QR-код

https://mikrosize.ru/product/istereo-6745-stereo-microscope/

Характеристики продукта:

— Премиальные оптические компоненты с специальными покрытиями обеспечивают высококачественные оптические изображения.
— Обеспечивает прямое изображение с плоскими фокальными плоскостями и отличным контрастом в широком поле зрения, с заметно более яркими и четкими изображениями на периферии.
— Оснащен объективом с непрерывным зумом 0,67X–5X (коэффициент зума 6,7:1). В паре с окулярами WF10X стандартное увеличение составляет от 6,7X до 45X. Дополнительные вспомогательные объективы расширяют диапазон увеличения до 2,01X–270X.
— Стандартное эффективное рабочее расстояние составляет 105 мм. С дополнительными вспомогательными объективами рабочее расстояние может быть увеличено до 26–287 мм (1,02–30 дюймов), обеспечивая достаточное рабочее пространство.
— Наблюдательная головка наклоняется под углом 45° с бинокулярной диоптрийной регулировкой, что позволяет пользователям с разным зрением получать четкие и удовлетворительные изображения.
— Эргономичная конструкция с оптимальной высотой точки зрения предотвращает усталость при длительном наблюдении.
— Колесики зума установлены горизонтально (аксиально) с обеих сторон для удобного и комфортного управления и отличной повторяемости зума.

Применение продукта:

— Идеально подходит для микроструктурного наблюдения и контроля дефектов электронных компонентов, прецизионных механических деталей, печатных плат, новых материалов и других изделий.
— Соответствует требованиям для оперативного контроля качества на месте и высокоточного лабораторного анализа, охватывая этапы входного контроля, мониторинга процесса и приемки готовой продукции.
— Поддерживает точные измерения размеров и архивирование данных, подходит для различных сценариев, включая научно-исследовательские институты, отделы контроля качества на заводах и университетские лаборатории.
— Позволяет проводить сравнительный анализ между изображениями в реальном времени и сохраненными снимками для упрощения проверки соответствия и выявления аномалий в массовом производстве.
— Совместим с образцами из металлов, пластика, электронных компонентов и других материалов, а также удовлетворяет требованиям контроля как плоских, так и трехмерных структур.