SPM-200 Прибор для измерения шероховатости и профиля

QR

×
QR-код

https://mikrosize.ru/product/spm-200-roughness-and-profile-measuring-machine/

SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine1

SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine2

SPM 200 Roughness And Profile Measuring Machine3 scaled

SPM 200D图3 1

SPM 200D图5 1

SPM 200D图6 1

Характеристики и области применения

Характеристики продукта:

Использует импортный чип-сенсор с разрешением до 0,01 мкм.
Диапазон измерения шероховатости ±1500 мкм, удовлетворяет потребности высокоточного промышленного контроля.
Поддерживает многомерный анализ профиля и шероховатости, охватывая множество параметров (например, Ra, Rz и т.д.).
Импорт/экспорт CAD-файлов для сравнения профилей.
Автоматическое программирование обеспечивает быстрое обнаружение и оценку OK/NG, повышая эффективность.
Управление трехосевым джойстиком на эффекте Холла для гибкой и удобной работы. Электрическая колонна с линейной направляющей обеспечивает стабильность движения.
Автоматическая защита контакта снижает повреждение стилуса.
Угол подъема: подъем 77°, спуск 87°, подходит для контроля сложных поверхностей деталей.
Оснащен регулируемым рабочим столом с большим углом наклона (±30°) и регулируемыми плоскогубцами (0~45°).
Поддерживает обнаружение минимального внутреннего отверстия 5 мм.
Использует гранитное основание класса 00 (погрешность точности 3 мкм) для высокой виброустойчивости и долгосрочной стабильности.
Программное обеспечение поддерживает создание отчетов в форматах PDF/Word/Excel одним нажатием с разнообразными форматами вывода.
Модульная конструкция (например, углеродное волокно для измерительного рычага, твердосплавный стилус) для легкой замены и низких затрат на обслуживание.

Применение продукта:

Автомобильное производство
Контроль шероховатости поверхности и точности профиля прецизионных компонентов (шестерни, подшипники) для обеспечения смазки, герметизации и усталостной прочности пар трения, предотвращая функциональные сбои из-за дефектов поверхности.
Аэрокосмическая промышленность
Проверка качества обработки высокоточных криволинейных поверхностей, анализ волнистости поверхности для обеспечения аэродинамических характеристик и структурной прочности компонентов в экстремальных условиях.
Прецизионная электроника и производство полупроводников
Измерение наноуровневой шероховатости (Rq, Rsk) и микропрофилей для обеспечения стабильности передачи сигнала и предотвращения коротких замыканий или ослабления сигнала из-за дефектов поверхности.

Технические характеристики

Диапазон измерений	Привод по оси X	130 мм
	Диапазон профиля Z1	20 мм
	Диапазон шероховатости Z1	±1500 мкм
	Разрешение Z1	0,02 мкм
	Высота колонны Z	400 мм (опционально 550 мм)
	Минимальный измеряемый внутренний диаметр	Ø5 мм
Технические параметры профиля	Точность линейности контура	±(0,7+\|0,12H\|) мкм
	Точность дуги	±(1,5+R/12) мкм
	Угол	±1′
	Прямолинейность (ось X)	0,5 мкм/100 мм
Технические параметры шероховатости	Линейная точность шероховатости	≤±3%
	Остаточный шум	≤0,005 мкм
	Стабильность повторяемости	≤ 3% от значения показаний
	Длины волн среза	0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 мм
	Длина оценки	λcX1, 2, 3, 4, 5
	Разрешение	0,01 мкм
Угол подъема	Подъем: 77° Спуск: 88°
Параметры оценки шероховатости	Ra, Rz, (Rmax, Ry), Rt, Rp, Rpm, Rz(jis), Rv, R3z, Rsm, Rsk, Rk, Rc, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
Скорость измерения	0,05-20 мм/с
Скорость по оси Z	0,05-20 мм/с

Стандартная комплектация

Наименование	Кол-во
Основной блок профилометра шероховатости	1 шт.
Регулируемый рабочий стол с большим углом наклона	1 шт.
Плоскогубцы	1 шт.
Калибровочные стандарты	1 шт.
Игла датчика	1 шт.
Рычаг датчика	1 шт.	/
Компьютер	1 шт.	/
Принтер	1 шт.	/
USB-накопитель с программным обеспечением	1 шт.	/